Nearfield Instruments lance le « Mode Lightning » pour QUADRA, un système de métrologie AFM plus rapide pour les dispositifs semi-conducteurs avancés. Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA, a faster AFM metrology system for advanced semiconductor devices.

Nearfield Instruments lance le « mode Lightning » pour QUADRA®, le système de métrologie AFM à plus haut débit pour les dispositifs semi-conducteurs avancés. Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA®, the highest-throughput AFM metrology system for advanced semiconductor devices. QUADRA est désormais pleinement qualifié et déployé pour la fabrication en grand volume, offrant une métrologie 3D non destructive pour la mémoire, les processus logiques et les structures à rapport d'aspect élevé. QUADRA is now fully qualified and deployed for high-volume manufacturing, offering 3D non-destructive metrology for memory, logic processes, and high-aspect-ratio structures. Cette innovation accélère l’optimisation et le contrôle du délai de rendement et du rendement HVM. This innovation accelerates time-to-yield and HVM yield optimization and control.